Real Analysis 拓扑空间测度

本文档在拓扑空间上建立测度理论。首先定义Radon测度,研究其正则性质和逼近定理。通过Lusin定理建立可测函数与连续函数的联系,说明可测函数可以用连续函数逼近。核心是Riesz表示定理,建立$C_c(X)$上的正线性泛函与Radon测度的一一对应关系。最后介绍Radon测度的收敛模式(模糊收敛、弱收敛)和Prokhorov定理,为概率论和泛函分析提供工具。

前置知识:拓扑空间、测度论、函数空间 核心思想:在拓扑空间上建立测度理论,通过连续函数研究测度(Riesz表示定理)


1. Radon测度的定义

定义:拓扑空间 $X$ 上的 Borel 测度 $\mu$ 是 Radon 测度,如果:

  1. $\mu$ 在所有紧集上有限
  2. 所有 Borel 集外正则:$\mu(E) = \inf\{\mu(U): E \subset U, U \text{开}\}$
  3. 所有开集内正则:$\mu(U) = \sup\{\mu(K): K \subset U, K \text{紧}\}$

正则性

  • 外正则:用开集从外部逼近
  • 内正则:用紧集从内部逼近

定理:对 σ-有限的 Radon 测度,所有 Borel 集都内正则

例子:紧度量空间上所有有限 Borel 测度都是正则 Radon 测度


2. Lusin定理

定理:设 $X$ 是局部紧 Hausdorff (LCH, 下面同样假设) 空间,$\mu$ 是 Radon 测度,$f$ 是 Borel 可测且支集测度有限,则 $\forall \varepsilon > 0$,存在紧集 $K$ 和 $\phi \in C_c(X)$ 使得:

  1. $K \subset \text{supp}(f)$,$\phi = f$ 在 $K$ 上成立
  2. $\mu(\{f \neq \phi\}) < \varepsilon$

直观意义:可测函数在去掉一个测度很小的集合后,可以延拓为连续函数

应用:表明在测度论中,连续函数在 $L^p$ 空间中稠密


3. $C_c(X)$ 上的正线性泛函

定义:$I: C_c(X) \to \mathbb{R}$ 是正线性泛函,如果 $f \geq 0 \Rightarrow I(f) \geq 0$

Riesz表示定理:对 $C_c(X)$ 上的正线性泛函 $\phi$,存在唯一 Radon 测度 $\mu$ 使得:

\[\phi(f) = \int_X f d\mu, \quad \forall f \in C_c(X)\]

且满足:

  • $\mu(G) = \sup\{\phi(f): f \in C_c(X), f \prec G\}$ 对开集 $G$, $f \prec G \iff 0 \le f \le 1 \& \mathrm{supp} f \subset G$
  • $\mu(K) = \inf\{\phi(f): f \in C_c(X), f \geq \mathbf{1}_K\}$ 对紧集 $K$

证明思路

  1. 对开集定义 $\mu(G) = \sup\{\phi(f): f \in C_c(X), f \prec G\}$
  2. 推广到外测度
  3. 用 Carathéodory 准则构造 Borel 测度
  4. 验证正则性和表示公式

4. $C_0(X)$ 上的线性泛函

定义:$C_0(X) = \{f \in C(X): \forall \varepsilon > 0, \{x: |f(x)| \geq \varepsilon\} \text{紧}\}$

定理:$\phi \in (C_c(X))^*$ 是正线性泛函当且仅当 $\exists$ 有限 Radon 测度 $\mu$ 使得 $\phi = I_\mu$,且: \(\|\phi\|_{\mathcal{L}} = \mu(X)\)


5. 实Radon有号测度和Radon复测度

定义:$\nu$ 是 Radon 有号测度,如果 $|\nu|$ 是 Radon 测度(全变差有限)。我们记 $\mathcal{M}(X)$ (或为了强调取实值,记为 $\mathcal{M}(X;\mathbb{R})$) 为 $X$ 上实 Radon 有号测度的全体。

性质

  • $\mu \in \mathcal{M}(X) \Leftrightarrow \mu(X) < \infty$(有限 Radon 测度空间)
  • 若 $\mu_1, \mu_2 \in \mathcal{M}(X)$,则 $\mu_1 \pm \mu_2 \in \mathcal{M}(X)$
  • $\nu$ 是 Radon 有号测度 $\Leftrightarrow$ $\nu$ 是两个有限 Radon 测度之差
  • $(\mathcal{M}(X), |\cdot|_{TV})$ 是 Banach 空间

全变差范数:$|\nu|_{TV} = |\nu|(X)$


6. Riesz-Kakutani-Markov表示定理

定理:$\Phi: \mathcal{M}(X) \to (C_0(X))^*$,$\nu \mapsto I_\nu$ 是等距线性同构,其中: \(I_\nu(f) = \int_X f d\nu\)

证明思路

  1. 对 $\phi \in (C_0(X))^\ast$ 进行 Jordan 分解 $\phi = \phi^+ - \phi^-$
  2. 对正线性泛函应用 Riesz 表示定理
  3. 证明 $|I_\nu|_{\mathcal{L}} = |\nu|_{TV}$

意义:建立了连续函数空间的对偶与 Radon 测度之间的深刻联系


7. 弱收敛和弱星收敛

定义

  • 强收敛:$f_n \to f$ 一致收敛
  • 弱收敛:$\int f_n d\mu \to \int f d\mu$ 对所有 $\mu \in \mathcal{M}(X)$
  • 弱星收敛:$\int f d\mu_n \to \int f d\mu$ 对所有 $f \in C_0(X)$

关系

  • 强收敛 $\Rightarrow$ 弱收敛
  • 在有限测度空间中,一致收敛蕴含弱星收敛

应用:概率论中的依分布收敛


第八部分小结

拓扑空间测度理论体系

Radon测度定义 → 正则性 → Lusin定理
→ C_c(X)上的正线性泛函 → Riesz表示定理
→ C_0(X)上的线性泛函 → Riesz-Kakutani-Markov定理
→ 弱收敛理论

关键定理(按重要性):

  1. Riesz-Kakutani-Markov 表示定理:对偶关系
  2. Riesz 表示定理($C_c(X)$):正线性泛函的表示
  3. Lusin 定理:可测函数的连续逼近
  4. Radon 测度的正则性

核心技巧

  • 利用 Urysohn 引理构造检验函数
  • 利用正则性进行内外逼近
  • 利用弱收敛处理紧性问题

应用领域

  • 调和分析
  • 概率论
  • 偏微分方程
  • 泛函分析

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Written on January 8, 2026